高低溫沖擊試驗(yàn)箱用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化，測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)，從精密的IC到重機(jī)械的組件，都會(huì)用到，是各領(lǐng)域?qū)Ξa(chǎn)品測(cè)試的不可少的一項(xiàng)測(cè)試箱。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱采用單片機(jī)控制，電動(dòng)揚(yáng)擺、沖擊、微機(jī)測(cè)量、運(yùn)算、數(shù)顯結(jié)果并可打印等，工作效率高、測(cè)試精度高。在沖擊試樣后可利用剩余能量自動(dòng)揚(yáng)擺，做好下次試驗(yàn)準(zhǔn)備，操作簡(jiǎn)便，工作效率高。

1、檢查冷熱沖擊試驗(yàn)箱，使擺錘刀口處于兩支承鉗口的中心。校正鉗口間的距離為。并檢查其空打時(shí)指針是否從上止點(diǎn)（最大刻度）帶至下止點(diǎn)（零刻度）證明確無能量損耗，方能進(jìn)行正式試驗(yàn)，然后舉起擺錘，將擺錘固定于規(guī)定的高度，同時(shí)把指針撥到最大刻度處，使試驗(yàn)機(jī)控制桿處于沖擊試驗(yàn)的預(yù)備位置。

2、測(cè)量試樣尺寸。冷熱沖擊試驗(yàn)箱如有條件可用沖擊試樣缺口投影儀檢查試樣缺口處的形狀尺寸及加工精度是否符號(hào)標(biāo)準(zhǔn)要求，剔除不合試驗(yàn)要求的試樣，然后對(duì)試樣編號(hào)，并記下各試樣缺口橫截面處的尺寸。

3、試驗(yàn)樣品應(yīng)按標(biāo)準(zhǔn)要求放置在試驗(yàn)箱內(nèi)，并將試驗(yàn)箱(室)內(nèi)溫度升到所需點(diǎn)，保持一定的時(shí)間至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長都為準(zhǔn)。

4、高溫階段結(jié)束后，在5min內(nèi)將試驗(yàn)樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到-55℃的低溫試驗(yàn)箱(室)內(nèi)，保持1h或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長度為準(zhǔn)。

5、低溫階段結(jié)束后，在5min內(nèi)將試驗(yàn)樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到70℃的高溫試驗(yàn)箱(室)內(nèi)，保持1h或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長度為準(zhǔn)。

重復(fù)上述實(shí)驗(yàn)方法，以完成三個(gè)循環(huán)周期。根據(jù)樣件大小與空間大小，時(shí)間可能會(huì)略有誤差。

恢復(fù)：試驗(yàn)樣品從試驗(yàn)箱內(nèi)取出后，應(yīng)在正常的試驗(yàn)大氣條件下進(jìn)行恢復(fù)，直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定。